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半导体分立器件

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  • 1 高压直流(HVDC)输电用晶闸管换流阀.第1部分:电气试验 -
  • BS EN 60700-1-2015 - 中外标准 - BSBASE- 2015/1 - 现行
  • 关键词:Thyristors  Semiconductor devices  Semiconductor rectifiers  Rectifiers  Surge protection  Electric convertors  High-voltage equipment  Direct current  Direct-current power transmission  Electrical testing  Type testing  Performance testing  Test specimens  Testing conditions  Electrical faults  Dielectric-strength tests  Voltage  Impulse-voltage tests  Overvoltage tests  High-voltage tests  Recovery voltage  Transient voltages  Fault currents  Short-circuit current tests  Electromagnetism  Approval testing  Safety measures  Factor of safety  Mathematical calculations  Partial discharges  Alternating current  Stress
  • 2 半导体器件.分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管 -
  • BS IEC 60747-3-2013 - 中外标准 - BSBASE- 2015/1 - 现行
  • 关键词:Signal diodes  Voltage-reference diodes  Switches  Semiconductor diodes  Semiconductor devices  Diodes  Electronic equipment and components  Definitions  Letters (symbols)  Symbols  Ratings  Electrical properties and phenomena  Electrical measurement  Electrical testing  Test equipment  Circuits  Current measurement  Voltage measurement  Capacitance measurement  Charge measurement  Performance testing  Efficiency  Noise (spurious signals)  Resistance measurement  Electrical conductance  Endurance testing  Failure (quality control)  Testing conditions  Power losses  Power measurement (electric)  Power  Power measurement  Output capacity  Electrical properties  Performance  Circuit closers
  • 5 等离子体显示板. 环境试验方法. 板强度 -
  • BS IEC 61988-4-2-2012 - 中外标准 - BSBASE- 2014/1 - 现行
  • 关键词:Plasma display devices  Optoelectronic devices  Semiconductor devices  Plasma displays  Display devices (computers)  Electronic equipment and components  Environmental testing  Endurance testing  Mechanical testing  Durability  Testing conditions  Test methods  Panels  Endurance tests  Planks  Plates  Sheets  Boards  Permanency  Storage quality  Tiles
  • 8 半导体器件. 微型机电装置. 薄膜MEMS材料泊松比试验方法 -
  • BS EN 62047-21-2014 - 中外标准 - BSBASE- 2014/1 - 现行
  • 关键词:Semiconductor devices  Electronic equipment and components  Electromechanical devices  Semiconductor technology  Integrated circuits  Thin-film devices  Fatigue testing  Bend testing  Resonance  Vibration  Test specimens  Test equipment
  • 9 半导体器件. 微型机电装置. 陀螺仪 -
  • BS EN 62047-20-2014 - 中外标准 - BSBASE- 2014/1 - 现行
  • 关键词:Semiconductor devices  Electronic equipment and components  Electromechanical devices  Semiconductor technology  Integrated circuits  Thin-film devices  Fatigue testing  Bend testing  Resonance  Vibration  Test specimens  Test equipment
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