知识导航
资源分类
找到 700 项标准 首页 > 半导体分立器件

电子与信息技术

展开标准分类

全部

电子元器件与信息技术

半导体分立器件

展开标准类型

展开发布日期

2项 2015

1项 2012

1项 2010

6项 2009

9项 2008

1项 2007

1项 2005

8项 2003

9项 2002

12项 2000

5项 1999

6项 1998

14项 1997

17项 1996

36项 1995

59项 1994

9项 1993

26项 1992

20项 1991

1项 1989

17项 1988

4项 1987

18项 1986

50项 1983

29项 1982

发布日期:-
全部 仅全文

 导出 excel导出 txt

  • 1 液晶显示用背光组件 第6-2部分:测试方法 动态光学与光电参数 -
  • SJ/T 11460.6.2-2015 - 中外标准 - HBBASE- 2015/1 - 现行

  • 2 液晶显示用背光组件 第6-1部分:测试方法 光学与光电参数 -
  • SJ/T 11460.6.1-2015 - 中外标准 - HBBASE- 2015/1 - 现行

  • 3 薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片 -
  • HG/T 4357-2012 - 中外标准 - HBBASE- 2012/1 - 现行
  • 关键词:晶体管  液晶显示器  偏光片
  • 4 半导体管特性图示仪校准规范 -
  • JJF 1236-2010 - 中外标准 - HBBASE- 2010/1 - 现行
  • 关键词:半导体管  特性  图示仪  校准
  • 5 半导体发光二极管产品系列型谱 -
  • SJ/T 11401-2009 - 中外标准 - HBBASE- 2009/1 - 现行
  • 关键词:半导体  发光二极管  产品  型谱
  • 7 半导体发光二极管芯片测试方法 -
  • SJ/T 11399-2009 - 中外标准 - HBBASE- 2009/1 - 现行
  • 关键词:半导体  发光二极管  芯片  测试方法
  • 8 功率半导体发光二极管芯片技术规范 -
  • SJ/T 11398-2009 - 中外标准 - HBBASE- 2009/1 - 现行
  • 关键词:半导体  发光二极管  芯片  技术规范
  • 9 半导体发光二极管测试方法 -
  • SJ/T 11394-2009 - 中外标准 - HBBASE- 2009/1 - 现行
  • 关键词:半导体  发光二极管  测试方法
共 70 页 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 下一页 末页

知识产权声明| 服务承诺| 联系我们| 人才招聘| 客户服务| 关于我们

京ICP证:010071  互联网出版许可证:新出网证(京)字042号  京公网安备11010802020237号
万方数据知识服务平台--国家科技支撑计划资助项目(编号:2006BAH03B01)©北京万方数据股份有限公司  万方数据电子出版社