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2CL70~77及2CL79型塑料封装高压硅堆详细规范 -
- SJ 2760-1987 - 中外标准 - HBBASE- 1987/1 - 现行
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关键词：塑料封装高压硅堆 高压硅堆 规范
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NF C 86-612-1981补充件2 -
- NF C86-612/A2-1987 - 中外标准 - NFBASE- 1987/1 - 现行
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QG21-QG25型高频小功率晶体管F<下标t>测试仪试行检定规程 -
- JJG(电子) 04011-1987 - 中外标准 - HBBASE- 1987/1 - 现行
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关键词：高频小功率晶体管 测试仪 晶体管
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半导体分立器件外形尺寸 -
- GB/T 7581-1987 - 中外标准 - GBBASE- 1987/1 - 现行
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关键词：半导体器件 外形 分立器 尺寸 Dimensions Semiconductor devices Profile
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静态功率转换器.铅酸蓄电池充电用具有W特性的半导体整流器设备.要求 -
- DIN 41774-1987 - 中外标准 - DINBASE- 1987/1 - 现行
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关键词：半导体 额定值 蓄电池充电器 整流设备 充电设备 酸性铅蓄电池 半导体整流器 电气工程 规范(审批) 电力变换器 整流器 specification (approval) battery chargers charging equipment semiconductor rectifiers electrical engineering semiconductors lead-acid batteries electric convertors rectifier equipment ratings rectifiers
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半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元名称 -
- ANSI/EIA 321-C-1987 - 中外标准 - ANSI- 1987/1 - 现行
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关键词：semiconductor devices semiconductor engineering numbering systems electronic engineering
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2CL21～29型玻璃钝化封装高压硅堆详细规范 -
- SJ 2759-1987 - 中外标准 - HBBASE- 1987/1 - 废止
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关键词：硅堆 高压硅堆 规范
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阶跃恢复二极管空白详细规范 -
- SJ 2747-1987 - 中外标准 - HBBASE- 1987/1 - 废止
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关键词：二极管 规范
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NF C 86-812-1981补充件1 -
- NF C86-812/A1-1987 - 中外标准 - NFBASE- 1987/1 - 废止
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电子元器件用质量评估协调体系.一般规范.分立式半导体器件 -
- BS CECC 50000-1987 - 中外标准 - BSBASE- 1987/1 - 现行
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关键词：能力鉴定 机械试验 规范(验收) 资格鉴定 半导体整流器 抽样方法 电子设备及元件 加速度试验 作标记 名称与符号 试验设备 试验条件 电路 统计质量控制 认可试验 击穿电压 性能试验 环境试验 半导体闸流管 色码 电功率测量 方位 半导体器件 热试验 质量保证体系 检验 电压测量 电气试验 漏泄试验 电流测量 晶体管 耐久试验 电学测量 外观检查(试验) 质量控制 电容测量 验收(鉴定) 乱真信号 半导体二极管 瞬时电压 活化热 Accelerated testing Acceptance (approval) Approval testing Assessed quality Breakdown voltage Capability approval Capacitance measurement Circuits Colour codes Current measurement Designations Electrical measurement Electrical testing Electronic equipment and components Endurance testing Environmental testing Heat of activation Inspection Leak tests Marking Mechanical testing Noise (spurious signals) Orientation Performance testing Power measurement (electric) Qualification approval Quality assurance systems Quality control Sampling methods Semiconductor devices Semiconductor diodes Semiconductor rectifiers Specification (approval) Statistical quality control Test equipment Testing conditions Thermal testing Thyristors Transient voltages Transistors Visual inspection (testing) Voltage measurement
京公网安备11010802020237号