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半导体分立器件

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  • 1 液晶和固态显示器件 第3-1部分:液晶显示(LCD)屏空白详细规范 -
  • SJ/T 11248-2001 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:液晶显示器件  固态显示器件  液晶显示LCD屏  规范
  • 2 GS1113K型低功耗数码显示器详细规范 -
  • SJ 52146/2-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:低功耗数码显示器  数码显示器  规范
  • 3 宽温度范围液晶材料规范 -
  • SJ 20847-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:宽温度范围液晶材料  液晶材料  规范
  • 4 半导体分立器件.2CK141型微波开关二极管.详细规范 -
  • SJ 50033/153-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:半导体分立器件  微波开关二极管  开关二极管  规范
  • 5 半导体分立器件.2CK140型微波开关二极管.详细规范 -
  • SJ 50033/152-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:半导体分立器件  微波开关二极管  开关二极管  规范
  • 6 半导体分立器件.2DW14~18型低噪声硅电压基准二极管.详细规范 -
  • SJ 50033/151-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:半导体分立器件  低噪声  硅电压基准二极管  二极管  详细规范
  • 7 半导体分立器件.2DW230~236型硅电压基准二极管.详细规范 -
  • SJ 50033/150-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:半导体分立器件  硅电压基准二极管  二极管  规范
  • 8 6C18T型盘封管详细规范 -
  • SJ 20460/1-2002 - 中外标准 - HBBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:盘封管  电子管  规范
  • 9 半导体装置.机械和气候试验方法.第2部分:低气压 -
  • NF C96-022-2-2002 - 中外标准 - NFBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:大气压  环境试验  半导体  元部件  气候  电子工程  潮气  外观检查(试验)  集成电路  气候试验  温度变化  试验  尺寸  机械试验  电学测量  热学  易燃性  电气工程  环境  耐力  半导体器件  电子设备及元件  密封性  温度  Atmospheric pressure  Changes of temperature  Climate  Climatic tests  Components  Dimensions  Electrical engineering  Electrical measurement  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Environment  Environmental testing  Environmental tests  Flammability  Heat  Integrated circuits  Mechanical testing  Moisture  Resistance  Semiconductor devices  Semiconductors  Temperature  Testing  Tightness  Visual inspection (testing)
  • 10 半导体装置.机械和气候试验方法.第13部分:盐雾环境试验 -
  • NF C96-022-13-2002 - 中外标准 - NFBASE- 2002/1 - 现行
  • 关键词:电子设备及元件  半导体器件  盐雾  电气工程  气候  机械试验  电学测量  试验  破坏试验  集成电路  气候试验  电子工程  元部件  环境试验  半导体  Climate  Climatic tests  Components  Destructive testing  Electrical engineering  Electrical measurement  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Environmental testing  Integrated circuits  Mechanical testing  Salt mist  Semiconductor devices  Semiconductors  Testing
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