知识导航
资源分类
找到 127 项标准 首页 > 半导体分立器件

电子与信息技术

展开标准分类

全部

电子元器件与信息技术

半导体分立器件

发布日期:-
全部 仅全文

 导出 excel导出 txt

  • 4 电荷耦合成像器件测试方法 -
  • SJ 20868-2003 - 中外标准 - HBBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:电荷耦合成像器件  成像器件  测试方法
  • 5 微波组件通用规范 -
  • SJ 20527A-2003 - 中外标准 - HBBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:微波组件  半导体分立件  规范
  • 6 半导体装置的机械标准化.第6-4部分:表面安装半导体装置封装外形图绘制的一般规则.球状网格阵列(BGA)封装尺寸的测量方法 -
  • NF C96-013-6-4-2003 - 中外标准 - NFBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:定义  焊球网格阵列  外壳  工程图  电子工程  设计  力学  表面安装设备  电子设备及元件  电气外壳  电气工程  尺寸  标准化  测量方法  外形图  测量技术  作标记  集成电路  型式  图纸  测量  半导体封装  半导体  表面安装  半导体器件  Ball Grid Array  Case drawing  Definition  Definitions  Design  Dimensions  Drawings  Electric enclosures  Electrical engineering  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Enclosures  Engineering drawings  Integrated circuits  Marking  Measurement  Measuring techniques  Mechanic  Methods for measuring  Semiconductor devices  Semiconductor package  Semiconductors  SMD  Standardization  Surface mounting  Types
  • 7 半导体器件.机械和气候试验方法.第25部分:温度循环 -
  • NF C96-022-25-2003 - 中外标准 - NFBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:试验  元部件  循环时间  热学  电子工程  外观检查(试验)  电气工程  尺寸  密封性  半导体  电学测量  试验条件  机械试验  气候  集成电路  定义  环境  大气压  电子设备及元件  额定值  应力  温度变化试验  耐热冲击能力  温度  温度变化  环境试验  半导体器件  潮气  软钎焊连接  气候试验  耐力  易燃性  Atmospheric pressure  Changes of temperature  Climate  Climatic tests  Components  Cycle-time  Definition  Definitions  Dimensions  Electrical engineering  Electrical measurement  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Environment  Environmental testing  Environmental tests  Flammability  Heat  Integrated circuits  Mechanical testing  Moisture  Ratings  Resistance  Semiconductor devices  Semiconductors  Soldered joints  Stress  Temperature  Test on changes of temperature  Testing  Testing conditions  Thermal shock endurance  Tightness  Visual inspection (testing)
  • 8 半导体装置.机械和气候试验方法.第22部分:粘接强度 -
  • NF C96-022-22-2003 - 中外标准 - NFBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:半导体  环境试验  气候试验  电气工程  元部件  机械试验  半导体器件  试验  集成电路  电子设备及元件  电子工程  粘结强度  Bond strength  Climatic tests  Components  Electrical engineering  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Environmental testing  Environmental tests  Integrated circuits  Mechanical testing  Semiconductor devices  Semiconductors  Testing
  • 9 半导体装置.机械和气候试验方法.第19部分:抗剪强度试验 -
  • NF C96-022-19-2003 - 中外标准 - NFBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:电子设备及元件  电子工程  芯片  外壳  试验  材料强度  集成电路  半导体器件  机械试验  元部件  电气工程  气候试验  电学测量  剪切强度  半导体  气候  环境试验  Chips  Climate  Climatic tests  Components  Electrical engineering  Electrical measurement  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Enclosures  Environmental testing  Integrated circuits  Mechanical testing  Semiconductor devices  Semiconductors  Shear strength  Strength of materials  Testing
  • 10 半导体装置.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量) -
  • NF C96-022-18-2003 - 中外标准 - NFBASE- 2003/1 - 现行
  • 关键词:半导体  多语种的  电离辐射  军事装备  电子设备及元件  定义  电气工程  试验  组件  电学测量  气候  环境试验  辐射效果  航天运输  机械试验  电子工程  气候试验  半导体器件  集成电路  破坏试验  Climate  Climatic tests  Components  Definition  Definitions  Destructive testing  Electrical engineering  Electrical measurement  Electronic engineering  Electronic equipment and components  Environmental testing  Integrated circuits  Ionizing radiation  Mechanical testing  Military equipment  Multilingual  Radiation effects  Semiconductor devices  Semiconductors  Space transport  Testing
共 13 页 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 下一页 末页

知识产权声明| 服务承诺| 联系我们| 人才招聘| 客户服务| 关于我们

京ICP证:010071  互联网出版许可证:新出网证(京)字042号  京公网安备11010802020237号
万方数据知识服务平台--国家科技支撑计划资助项目(编号:2006BAH03B01)©北京万方数据股份有限公司  万方数据电子出版社