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并联电容对正接法测量高压电气设备介质损耗值的影响分析

并联电容对正接法测量高压电气设备介质损耗值的影响分析

Influence of Shunt Capacitor on the Dielectric Loss Factor of HV Equipment Measured by Positive Connection Method

Influence of Shunt Capacitor on the Dielectric Loss Factor of HV Equipment Measured by Positive Connection Method

doi:
10.3969/j.issn.1009-9239.2010.06.018
摘要:
介质损耗试验时,传统做法和理论分析均采用正接法,因为正接法对并联在被试设备两端的电容有良好的屏蔽作用.但试验发现并联电容易造成介损值偏大.通过试验和理论分析发现,由于套管氧化层电阻的影响.如果在回路中串联了接触电阻,则并联在被试设备两端的电容就会对整个测量系统造成影响,且电容量在回路中占总电容量的比例越大,对介损值的影响也就越大.
作者 吴永恒
Author: Wu Yong-heng
作者单位 嘉兴市恒光电力建设有限公司,浙江嘉兴,314033
期 刊: 绝缘材料 ISTIC EI SCI PKU CSSCI
Journal: INSULATING MATERIALS
年,卷(期) 2010, 43(6)
分类号 TM930.45 TM934.32
关键词: 介损 知识脉络 接触电阻 知识脉络 修正公式 知识脉络 等值电路 知识脉络
机标分类号 TM7 TM3
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