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半导体设备. 机械和气候试验方法. 第42部分:温度和湿度存储

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42:temperature humidity storage

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 42 : stockage température et d'humidité

摘要:
La présente partie de l'IEC 60749 décrit une méthode d'essai pour évaluer l'endurance des dispositifs à semiconducteurs utilisés dans les environnements à température élevée et à forte humidité.
标准编号: NF C96-022-42-2015
标准类型:
发布单位: FR-AFNOR
发布日期: 2015年1月1日
状态: 现行
强制性标准:
中国标准分类号: L40 电子元器件与信息技术

半导体分立器件

关键词: Storage time     Investigations     Storage     Bearings     Semiconductor devices     Failure (quality control)     Corrosion resistance     Temperature     Evaluations     Climate     High-temperature testing     Mathematical calculations     Humidity     Storing     Assessment     Expertises     Failure (mechanical)     Stock control     DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR     STOCKAGE     ESSAI D'ENDURANCE THERMIQUE     ESSAI A HAUTE TEMPERATURE     CONDITIONS CLIMATIQUES     TEMPERATURE     HUMIDITE     EVALUATION     RESISTANCE A LA CORROSION     DEFAILLANCE     Defaillance (controle de qualite)     Essai a l'etuve     Defaillance mecanique     Humidite     Pouvoir anti-corrosif     Resistance a la corrosion     Humidite relative     Temperature     Panne    

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