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中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
多冗余可重构综合电子系统的评估方法
随着对星载综合电子系统长期和短期可靠性要求的不断提升,可重构设计将成为常态.传统基于故障树的分析方法不能处理系统结构的变化,需要使用准马尔可夫过程模型描述具有可重构能力的星载综合电子系统.准马尔可夫过程模型描述两类情况,一类是故障发生,另一类是故障恢复,这两类事件的转换时间的概率分布相差很大,无法用仿真方法直接估算系统可靠性.因此,NASA开发了SURE可重构系统可靠性评估软件,计算系统失效概率的上下界.结合现阶段多冗余可重构综合电子系统的设计方案,本文使用SURE程序对不同方案进行了评估,给出了量化的失效率曲线.
作者
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刘骁
关宁
陈慧
游红俊
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作者单位
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上海航天电子技术研究所,上海,201109 |
母体文献
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中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
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会议名称
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中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会
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会议时间
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2018年10月1日
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会议地点
:
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广州
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主办单位
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中国电子学会
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语 种
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chi
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分类号
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TH1 TP3
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关键词
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星载综合电子系统
可靠性
可重构设计
准马尔可夫过程
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在线出版日期
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2021年12月15日
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基金项目
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